1. IEEE standard Tests access port and boundary-scan architecture
پدیدآورنده : sponsor test technology standards committee of the IEEE computer society
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع : Testing Data processing ، Electronic circuits,، Computer architecture,، Boundary scan testing
رده :
TK
7867
.
E54
2001
